卓越質(zhì)量日本SANKO山高膜厚儀 SWT-9000
SWT-9000,SANKO測(cè)厚儀,SANKO山高， 仕 様 測(cè)定範(fàn)囲 0～2.00mm 表示分解能 1µm：0～999µm 切替で 0.1µm：0～400µm 0.5µmµm：400～500µm 0.01mm：1.00～2.00mm
- 型號(hào)： 卓越質(zhì)量日本SANKO山高膜厚儀 SWT-9000
SWT-9000,SANKO測(cè)厚儀,SANKO山高，
仕 様
測(cè)定範(fàn)囲
0～2.00mm
表示分解能
1µm：0～999µm 切替で 0.1µm：0～400µm 0.5µmµm：400～500µm 0.01mm：1.00～2.00mm
測(cè)定精度
均一面に対して 0～100µm：±1µmまたは指示値の±２％ 101µm～2.00mm：±２％以內(nèi)
表示方式
LCDデジタル、表示ホールド
メモリ
検量線×1
プローブ
1點(diǎn)定圧接觸式、Vカット付、φ13×47mm
電源
単３乾電池（1.5V）×２ オートパワーオフ
使用溫度
0～40℃（結(jié)露しないこと）
寸法重量
72(W)×30(H)×156(D)mm、約270g
付屬品
標(biāo)準(zhǔn)厚板、テスト用ゼロ板、収納ケース